Art.-No. MCA-T700[MCP-T700 : LORESTA-GX]

Desk-Top Low Resistivity Meter




모델명	Art.-No. MCA-T700[MCP-T700 : LORESTA-GX]
제조사	NITTOSEIKO ANALYTECH (former : MITSUBISH
원산지	일본
분류명	표면 저저항계

제품설명
제품사양
구성/자료
공통/비고

* Specifications

Measurement Method	Constant Current Application Method / Four-Point Probe Method.
Data Display	640 x 480 dots 7.5 inch Full Volor TFT LCD Touch Panel.
Converter	Upper and Lower Limit Values Can be Set Individually.
Probe	Dedicated Probe : ASP, LSP, ESP, PSP, QP, BSP, NSCP, AP, BP.
Data Output	USB Memory.
Power Supply	AC85~264V / 47~63Hz.
Dimensions	W320 x D285 x H110mm. (W320 x D285 x H200mm - When Storage Box is Open).
Weight	Approx. 2.4kg.
Standard Accessory	Probe, Probe Checker, Power Cord Cable.

		Constant Current Value
		1A	100mA	10mA	1mA	100μA	10μA	1μA	0.1μA
Range	10^-4	±(2.0% + 30dgt)
	10^-3	±(2.0% + 20dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10^-2	±(1.0% + 5dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10^-1	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10⁰		±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10¹			±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10²				±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10³					±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10⁴						±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)
	10⁵							±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)
	10⁶								±(1.0% + 3dgt)
	10⁷								±(2.0% + 5dgt)

* Standard Accessories

Art.-No. RMH-110 : ASP Probe.

Art.-No. RMH-304 : ASPㆍESPㆍLSP Probe Checker.

Power Cable.

Instruction Manual.

※ Art.-No. RMH-110 : ASP Probe & Art.-No. RMH-304 : ASPㆍESPㆍLSP Probe Checker Sample Image.

* Optional Accessories (별매품)

* 센서 프로브 [Sensor Probe]

Art.-No.	사양	용도
ASP Probe. MCP-TP03P [Art.-No. RMH-110]	JIS K 7194 대응 핀 간격 : 5mm 핀 끝 : 0.37R × 4 개 스프링 압력 : 210g / 개	이용 범위가 넓은 표준 프로브.
ESP Probe. MCP-TP08P [Art.-No. RMH-114]	핀 간격 : 5mm 핀 끝 : φ2mm × 4 개 스프링 압력 : 240g / 개	불균일한 면의 샘플용.
LSP Probe. MCP-TPLSP [Art.-No. RMH-116]	핀 간격 : 5mm 핀 끝 : 구형 D2mm × 4 개 스프링 압력 : 130g / 개	부드러운 샘플용.
PSP Probe. MCP-TP06P [Art.-No. RMH-112]	핀 간격 : 1.5mm 핀 끝 : 0.26R × 4 개 스프링 압력 : 70g / 개	작은 샘플 또는 박막용.
QPP Probe. MCP-TPQPP [Art.-No. RMH-115]	핀 간격 : 1.5mm 핀 끝 : 0.26R × 4 개 스프링 압력 : 70g / 개	미소 샘플용, 스퀘어 타입.
BSP Probe. MCP-TP05P [Art.-No. RMH-111]	핀 간격 : 2.5mm 핀 끝 : 0.37R × 4 개 스프링 압력 : 210g / 개	큰 샘플용. (주) 저항률의 측정은 할 수 없습니다.
NSCP Probe. MCP-NSCP [Art.-No. RMJ-202]	핀 간격 : 1.0mm 핀 끝 : 0.04R × 4 개 스프링 압력 : 250g / 개	실리콘 웨이퍼용.
TFP Probe. MCP-TFP [Art.-No. RMJ-217]	핀 간격 : 1.0mm 핀 끝 : 0.15R × 4 개 스프링 압력 : 50g / 개	실리콘 웨이퍼용 또는 유리 기판 위에 박막용.
AP2 Probe. MCP-TPAP2 [Art.-No. RMH-333]	핀 간격 : 10mm 핀 끝 : φ2 × 2 개 스프링 압력 : 240g / 개	표준 2-탐침 프로브 . (주) 저항률의 측정은 할 수 없습니다.
BP Probe. MCP-TPBP [Art.-No. RMH-118]	핀 끝 : φ2 × 2 개 스프링 압력 : 240g / 개	2-탐침 프로브, 큰 샘플용. (주) 저항율의 측정은 할 수 없습니다.

* Note

※ Loresta-AX[MCP-T370] 이전의 센서 프로브는 Loresta-FX[MCP-T380] 새로운 시스템에는 연결할 수 없습니다.

※ Loresta-GX[MCP-T700] 이전의 센서 프로브는 Loresta-GXII[MCP-T710] 새로운 시스템에는 연결할 수 없습니다.

※ BSP Probe, AP2 Probe, BP Probe 는 고유저항값(Ω) 만 측정에 사용할 수 있습니다.

※ BSP Probe, AP2 Probe, BP Probe 는 표면저항률(Ω/□) 의 측정은 할 수 없습니다.

* 프로브 체커 [Probe Checker]

Art.-No.	저항 값	용도
ASPㆍESPㆍLSP Probe Checker. MCP-TRF1 [Art.-No. RMH-304]	1.0Ω	ASPㆍESPㆍLSP 프로브 체커.
PSP Probe Checker. MCP-TRPS [Art.-No. RMH-311]	1.0Ω	PSP 프로브 체커.
QP2 Probe Checker. MCP-TRQP2 [Art.-No. RMH-313]	1.0Ω	QP2 프로브 체커.
NSCPㆍTFP Probe Checker. MCP-TRTF [Art.-No. RMH-312]	1.0Ω	NSCPㆍTFP 프로브 체커.
AP2ㆍBP Probe Checker. MCP-TRT2 [Art.-No. RMH-335]	1.0Ω	AP2ㆍBP 프로브 체커.